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基于MOSFET器件的单分子基因测序方法技术
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下载基于MOSFET器件的单分子基因测序方法的技术资料
文档序号:45040712
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本发明提供了一种基于MOSFET器件的单分子基因测序方法,属于单分子基因测序技术领域,该MOSFET器件栅极和源漏极区域先后镀膜铬和金表面,栅极上涂覆PMMA涂层后,通过高精度电子束曝光,显影出一个仅可容纳单个聚合酶的孔洞,PDMS微流道贴...
该专利属于北京大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京大学授权不得商用。
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