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一种透明元件微小缺陷双阶段检测方法及系统技术方案
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文档序号:45038862
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一种透明元件微小缺陷双阶段检测方法及系统,设计了基于伪标签生成的双阶段缺陷检测网络框架。第一阶段为透明元件数据的伪标签生成,由无监督检测方法及伪标签提取策略组成,在无监督检测方法方面提出了一种空间金字塔平衡特征融合‑自适应动态调制卷积网络,...
该专利属于中南大学所有,仅供学习研究参考,未经过中南大学授权不得商用。
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