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本发明公开了一种微型电脑主机老化测试方法及系统，涉及电脑性能测试技术领域，包括连接待测设备至测试系统，进行系统待机测试，采集初始基准数据；构建老化预测模型并结合课程学习和迁移学习优化模型训练策略；基于预测结果使用AIDA64进行主机预热测试...
该专利属于深圳市美高电子设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市美高电子设备有限公司授权不得商用。

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