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本发明属于三维形貌测量相关技术领域，其公开了一种基于连续垂直扫描结构照明的三维形貌测量方法及系统，方法包括：S1在每个扫描位置对待测样品采集一张结构光图像；S2利用时域上相邻的结构光图像进行背景光强估计，获取均匀照明图像并对结构光图像修正；...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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