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本发明涉及精密测量与分析技术领域中的矩形薄基片变形后形变和应力状态变曲率预测方法及装置。所述预测方法包括：建立三维坐标系XYZ；建立薄基片的曲率随位置坐标变化而变化的挠度模型，摒弃了原来的各处曲率相同的挠度模型，通过建立该变曲率挠度模型得到...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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