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本技术涉及光耦隔离的继电器状态检测电路，其包括光耦DT1，分压电阻RT80、RT81、RT82、RT83、RT85，二极管DT81；在光耦DT1两输入端之间并联分压电阻RT85与反接二极管DT81；光耦DT1一输入端通过串联的分压电阻RT8...
该专利属于青岛乾程科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛乾程科技股份有限公司授权不得商用。

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