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本申请提供了一种电子设备的性能评估方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取电子设备的当前运行数据；基于所述当前运行数据及其对应的第一系数，得到针对电子设备的性能评估值；所述第一系数表征运行数据与电子设备性能的相关程度；基于所述性能...
该专利属于合肥联宝信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥联宝信息技术有限公司授权不得商用。

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