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潜力层选取方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:44829579
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本申请提供一种潜力层选取方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括:基于候选层在多个测井指标下的指标值,确定候选层的指标均值和离散度;基于指标均值和离散度,确定候选层的目标排序指标;依据候选层的目标排序指标,在候选层中选取潜力层。本申请的...
该专利属于昆仑数智科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过昆仑数智科技有限责任公司授权不得商用。
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