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上海宇航系统工程研究所
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一种导电滑环接触压力测试装置制造方法及图纸
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下载一种导电滑环接触压力测试装置的技术资料
文档序号:44809296
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本发明涉及机械工程领域,尤其涉及一种导电滑环接触压力测试装置。本发明提供一种能够在不同温度条件下和不同振动幅度下对导电滑环的接触压力进行密封测试,便于全面评估导电滑环的稳定和性能,防止干扰,提高测试的可靠性,使用灵活方便的导电滑环接触压力测...
该专利属于上海宇航系统工程研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海宇航系统工程研究所授权不得商用。
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