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基于深度学习的低电阻高耐压性能预测方法及其系统，包括：对SiC DMOSFET器件的结构建模；构建了一个数据集；构建集基于CNN的神经网络预测模型；将训练集数据输入到预测模型中；通过计算损失函数，评估模型预测值与实际值之间的差异；将测试集数...
该专利属于浙江摩珂达半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江摩珂达半导体有限公司授权不得商用。

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