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文档序号:4461593

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本实用新型提供一种测试装置,用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口,并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试信号是否一致,...
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