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一种集成电路，其具有不均匀的保护层或涂层和感测电路（８０），不均匀的保护层或涂层位于要被保护的电路上，感测电路被用来感测与位于集成电路上的参考阻抗（ＣＯ）相比的保护涂层的一部分的第一阻抗。感测电路能够测量例如由改动引起的第一阻抗的变化。感测...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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