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本申请涉及用于识别处理器中的故障的方法和设备。示例装置(206)包括内置的测试观察控制器电路系统(302)，其被配置为：获得测试；向处理器(304)发送第一指令，以通过修改存储在多个存储器电路(306)中的值来开始执行测试；向处理器(304...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。

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