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本申请公开了一种基于海量电气互联设计与CAD图形数据的孪生校验方法、系统和可读存储介质，孪生校验方法包括：S1：电气图形数据构建；S2：电气图形数据提取，基于电气互联设计数据与图形数据孪生体，遍历CAD图纸中所有孪生体模型并提取其中实例化的...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十九研究所授权不得商用。

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