温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种ＴＦＴ液晶面板的物理性质测量方法，是ＴＦＴ液晶面板（４，４００）的物理性质测量方法，其具有：阻抗设定步骤（步骤Ｓ１、步骤Ｓ１１、步骤Ｓ１２），将所述ＴＦＴ液晶面板（４，４００）的ＴＦＴ（４Ａ，４００Ａ）的源极（４２Ａ，４２０Ａ...该专利属于东阳特克尼卡株式会社;夏普株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过东阳特克尼卡株式会社;夏普株式会社授权不得商用。
温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种ＴＦＴ液晶面板的物理性质测量方法，是ＴＦＴ液晶面板（４，４００）的物理性质测量方法，其具有：阻抗设定步骤（步骤Ｓ１、步骤Ｓ１１、步骤Ｓ１２），将所述ＴＦＴ液晶面板（４，４００）的ＴＦＴ（４Ａ，４００Ａ）的源极（４２Ａ，４２０Ａ...