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本发明涉及光学芯片测试技术领域，具体公开了基于FPGA的光学芯片测试系统，包括光学芯片基本性能测试分析模块、光学芯片性能评级模块、光学芯片稳定性测试分析模块、光学芯片信号处理测试分析模块和数据库。通过高精度激光器与光功率计校准以及在光学芯片...
该专利属于江苏晋成半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏晋成半导体有限公司授权不得商用。

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