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本申请属于串扰检测技术领域，具体公开了一种光束整形单元、传像光纤串扰率测试装置和方法。通过本申请，结合光束调整器件和无限远成像系统，对激光光束进行两次光束整形，使得耦合进待测光纤输入端的光斑大小可缩小至1.5μm及更小尺寸，支持依据待测光纤...
该专利属于长飞光纤光缆股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长飞光纤光缆股份有限公司授权不得商用。

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