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本发明公开了基于激光技术的高精度长度测量方法及系统，包括获取激光测量的工作数据和状态数据，根据所述激光扫描数据计算激光边缘坐标、第一激光测量长度和测距尺度，处理所述相机图像获得像素边缘坐标，匹配所述像素边缘坐标和所述激光边缘坐标获得第一边缘...
该专利属于中国测试技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国测试技术研究院授权不得商用。

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