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本申请公开了一种空间环境辐射检测方法及相关设备，涉及辐射检测技术领域，该方法包括：通过互补金属氧化物半导体传感器获取针对空间环境采集的目标图像；对目标图像进行特征提取，得到目标图像的第一环境特征，其中，第一环境特征包括目标图像的暗信号特征、...
该专利属于星测未来科技（北京）有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过星测未来科技（北京）有限责任公司授权不得商用。

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