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一种基于互谱分析的磁屏蔽桶噪底评估方法，包括数据采集，利用两个独立的原子磁强计在磁屏蔽桶中心位置同时采集噪声数据，对两个通道的离散化噪声数据使用汉宁窗进行加窗处理，减少近旁瓣泄露，并对加窗的双通道数据进行傅里叶变换，得到频谱数据，最后进行频...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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