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具有衬底耦合串扰抑制作用的单片集成半桥GaN HEMT器件制造技术
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下载具有衬底耦合串扰抑制作用的单片集成半桥GaN HEMT器件的技术资料
文档序号:44144046
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本发明属于功率半导体技术领域,涉及一具有衬底耦合串扰抑制作用的单片集成半桥GaN HEMT器件。该结构通过添加一个与半桥下管并联的,具有与下管相同开关状态的Sub晶体管,在Sub晶体管开启的过程中实现了对衬底中所积累的电荷的释放,并通过Su...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
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