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一种固态硬盘测试方法、系统、存储介质和程序产品技术方案
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一种固态硬盘测试方法、系统、存储介质和程序产品,涉及计算机存储测试领域,该方法包括:将待测固态硬盘的存储空间划分为多个物理区;确定在预设温度下预设时长内待测固态硬盘的读写测试次数;在预设时长内依次对多个物理区进行读写测试操作,得到多个物理区...
该专利属于深圳市星耀半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市星耀半导体有限公司授权不得商用。
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