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本发明提出一种基于阻抗自动生成LOSS测试方法,系统及存储介质,其中,获取inplan或者erp的阻抗信息;将阻抗信息分组,避开参考和走线层;对分好组的阻抗添加测点固定位置和定位孔,将分好组的阻抗按走线层排序;根据走线分布计算出测试点坐标;...该专利属于胜宏科技(惠州)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过胜宏科技(惠州)股份有限公司授权不得商用。
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本发明提出一种基于阻抗自动生成LOSS测试方法,系统及存储介质,其中,获取inplan或者erp的阻抗信息;将阻抗信息分组,避开参考和走线层;对分好组的阻抗添加测点固定位置和定位孔,将分好组的阻抗按走线层排序;根据走线分布计算出测试点坐标;...