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一种基于超分辨基因测序仪的光机成像质量评判方法技术
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文档序号:43975811
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本发明提供了一种基于超分辨基因测序仪的光机成像质量评判方法,在普通宽场荧光显微系统成像质量评判标准的基础上增加SIM成像质量评价方法。由于SIM与普通荧光显微镜在系统层面上最大的差别在于照明光源的不同,结合SIM结构光场参量的特点和实际应用...
该专利属于深圳华大生命科学研究院所有,仅供学习研究参考,未经过深圳华大生命科学研究院授权不得商用。
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