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本发明公开了一种电介质电热击穿观测装置，属于电介质绝缘性能测试领域，电介质电热击穿观测装置包括：电热击穿试验回路，用于输出阶梯上升的直流电压或阶梯上升的交流电压至电介质薄膜样品，使得电介质薄膜样品发生电热击穿；热成像系统，与电热击穿试验回路...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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