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本发明公开了一种基于卷积神经网络的模拟电路性能指标获取方法及其装置，涉及集成电路技术领域，包括：获取待识别的模拟电路，确定待识别的模拟电路的设计参数；根据待识别的模拟电路的结构，将设计参数映射到二维空间矩阵中，得到设计参数对应的二维稀疏矩阵...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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