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本发明属于射频芯片测试领域，具体涉及一种可编程射频收发芯片自动测试系统，旨在解决现有测试系统无法满足实时配置待测芯片并测试的需求及无法保证射频参数测试的准确性和稳定性的问题。本系统包括：控制器、测试仪器均集成于PXI机箱中；软件控制系统运行...
该专利属于北京时代民芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京时代民芯科技有限公司授权不得商用。

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