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本申请涉及一种PCIE接口性能测试系统。所述系统包括待测主板，包括PCIE接口，所述待测主板用于将各第一PCIE数据包通过所述PCIE接口写入至PCIE设备，并记录数据写入开始时间戳；在各所述第一PCIE数据包均写入成功后，记录数据写入结束...
该专利属于国芯韵（上海）智能信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国芯韵（上海）智能信息科技有限公司授权不得商用。

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