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本发明公开了一种太赫兹近场系统成像时图像特征点显示方法，属于太赫兹近场成像领域，主要解决太赫兹近场系统成像时由于图像对比值过大导致特征点显示不清晰问题。这里分三步进行，初次扫描确定图像特征点的位置，再次扫描确定图像特征点的参数大小，最后扫描...该专利属于合肥综合性国家科学中心能源研究院（安徽省能源实验室）所有，仅供学习研究参考，未经过合肥综合性国家科学中心能源研究院（安徽省能源实验室）授权不得商用。