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本发明涉及一种基于深度强化学习的智能超透镜光场相机电路板检测方法，包括：构建智能超透镜光场相机的电路板检测模型；利用实时全局光照模型获得电路板表面的光照参数；利用稠密光流法对电路板精确定位，获得光场图像的重聚焦参数；利用光场逐层扫描技术和光...
该专利属于宁波中电集创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波中电集创科技有限公司授权不得商用。

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