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本技术涉及测试端子技术领域，且公开了集成式双层多孔测试端子，包括插座，所述插座上端插接有插头，所述插头外侧固定连接有插头外板，所述插头外板固定连接有短接条，所述短接条外侧设有若干相对设置的凹槽，所述凹槽内部插接有插接口。本技术通过在在电气连...
该专利属于四川安邦威斯特电子设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川安邦威斯特电子设备有限公司授权不得商用。

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