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本发明公开了一种预测不同应力比下焊接接头疲劳裂纹扩展门槛值的方法，包括：在常温下进行疲劳裂纹扩展门槛值测试，获取母材区在基准应力比R<subgt;0</subgt;下的基准疲劳裂纹扩展门槛值建立母材区任意应力比R下的疲劳裂纹扩展...
该专利属于华东理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东理工大学授权不得商用。

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