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本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种片上AXI总线监控方法及监控模块，该方法由监控模块执行，包括：监控每笔传输操作的起始及响应时间戳，以获取每笔传输操作的延时；通过统计一个时间窗口内的多笔传输操作的延时以及数据量，获取平均延时以及平均带...
该专利属于无锡众星微系统技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡众星微系统技术有限公司授权不得商用。

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