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在一些方面，描述了一种用于检测物件中的一个或多个感兴趣物品的存在的物件检查系统，所述检查系统包括：x射线源，被配置为选择性地将x射线辐射朝向所述物件引导；检测系统，包括：主动检测元件，被布置成在照射所述物件之后检测来自所述x射线源的x射线辐...
该专利属于史密斯探测法国股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过史密斯探测法国股份公司授权不得商用。

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