温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种存储器的故障预测方法，该方法应用于存储技术领域，该方法包括：根据第一模型预测得到存储器在第一时间段内发生故障的第一概率；根据第一概率确定存储器进行压力测试后的结果；基于压力测试后的结果更新第一模型的样本标签；基于更新后的所述...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。