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本发明公开了一种基于电光效应的零值绝缘子检测方法及系统，获取良好绝缘子串空间电场强度分布数据；获取待测绝缘子串空间电场强度分布数据；将待测绝缘子串空间电场强度分布数据与良好绝缘子串空间电场强度分布数据进行对比；若存在零值绝缘子，根据测量数据...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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