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本发明涉及位姿测量系统及方法，具体涉及一种环境自适应的阵列目标位姿测量系统及方法，解决了现有阵列目标位姿测量方法测量精度较低、难以实现阵列目标同时、高精度测量的技术问题。本发明基于激光与摄影测量法对阵列目标进行位姿测量，利用已知空间位姿信息...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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