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本发明实施例提供综合良率的确定方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：过滤异常芯片，获得多个目标芯片；基于物料编号、测试流程编号、测试阶段编号以及晶圆编号对多个目标芯片进行分组，获得多个第一分组；确定BIN标记对应的每个第一分组的...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。

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