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一种用于高温流场烧蚀等离子体参数诊断的微波天线探针制造技术
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下载一种用于高温流场烧蚀等离子体参数诊断的微波天线探针的技术资料
文档序号:43469272
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本发明提供一种用于高温流场烧蚀等离子体参数诊断的微波天线探针,贴片天线的构型选用薄层长方体构型,微波天线采用正方形或矩形贴片,在贴片边缘中间的对称位置开槽以实现频率调节,采用同轴背馈形式对贴片进行馈电,通过移动馈电点在贴片的中心对称线上的位...
该专利属于中国科学技术大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学技术大学授权不得商用。
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