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提供一种可在短时间内高精度地测定透明的测定介质的物理量的物理量评价装置及物理量评价方法。本装置评价透明的测定介质的物理量，具有：激光光源；半透明镜，将来自激光光源的光的光路转换为测定介质的方向；物镜，将来自半透明镜的光聚光于测定介质的表面或...
该专利属于AGC株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过AGC株式会社授权不得商用。

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