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一种存储器测试方法，包括依次进行的先测试控制线、花码数据输入法测试、０１步进法测试以及Ｍａｒｃｈ算法测试步骤。本发明要求首先应具有高时效性，其次应对线路故障有高故障覆盖率，再次应兼顾存储器芯片自身故障的检测；同时覆盖了存储器芯片自身故障和电...
该专利属于中国航空工业第一集团公司第六三一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空工业第一集团公司第六三一研究所授权不得商用。

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