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本技术属于开孔检测技术领域，公开了一种检测结构。该检测结构包括底座和检测组件。底座用于限位容置容纳盒，容纳盒的顶端面设有若干用于插接工件的插孔；检测组件包括多个检测头，各个检测头的排布与各个工件的排布相匹配，检测组件沿竖直向下移动时，检测头...
该专利属于深圳市金洲精工科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金洲精工科技股份有限公司授权不得商用。

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