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本公开的方面包括用于对来自样本中具有重叠的荧光光谱的荧光团的光进行光谱解析的方法。根据某些实施例的方法包括利用光探测系统来探测来自样本的光，该样本包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团，并且对来自样本中每个荧光团的光进行光谱解析。在一些实施例中...
该专利属于贝克顿·迪金森公司所有，仅供学习研究参考，未经过贝克顿·迪金森公司授权不得商用。

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