下载一种用于工业测量的闭合曲线拟合方法、系统及存储介质的技术资料

文档序号:43399052

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本发明公开了一种用于工业测量的闭合曲线拟合方法、系统及存储介质,属于工业测量技术领域,其中方法包括:S100、获取待分析物体图像,并通过ROI提取所述待分析物体图像的物体外边缘点,得到第一点集;S200、计算得到第一中心和第一距离;S300...
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