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本发明公开了一种热负载测试治具、测试系统及测试方法。该治具包括机壳，以及设置在机壳内的模拟发热结构和主控结构；模拟发热结构包括多个发热组件，多个发热组件作为模拟服务器中产生热量的组件，用于同时发热或者分别发热；主控结构包括主控板和多个控制开...
该专利属于电子科技大学（深圳）高等研究院所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学（深圳）高等研究院授权不得商用。

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