温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及集成式阻挡杂质带探测器及其制造方法。该集成式阻挡杂质带探测器包括：超透镜阵列，用于聚光；阻挡杂质带探测结构，设置于超透镜阵列的出光侧，阻挡杂质带探测结构包括透光衬底、第一电极层、吸收层、阻挡层、第二电极层、钝化层及第一接触电极，其...
该专利属于之江实验室所有，仅供学习研究参考，未经过之江实验室授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。