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本发明涉及基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质，通过采用断言的验证方式进行芯片复位时序的验证，能够深入到芯片复位设计的所有细节，从而能够更精准、更全面的验证芯片复位功能。此外，断言模块也具有很好可移植性，能够在不同的芯片复位验证...
该专利属于上海芯钛信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯钛信息科技有限公司授权不得商用。

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