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本发明公开了一种基于深度学习算法的梯次利用电芯外观缺陷检测方法；其包含以下步骤：采集梯次利用电芯外观图像，建立原始数据集；运用Labelme图像标注工具对数据集中图像的缺陷信息进行标注；数据预处理：扩充数据集数量并将数据集划分制作成训练集、...
该专利属于上海第二工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海第二工业大学授权不得商用。

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