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本申请提供了一种数据分析方法、装置及电子设备，涉及数据处理技术领域。在本申请中，首先获取对多个被测基板管理控制器BMC进行压力测试的崩溃测试数据集；然后基于崩溃测试数据集中的每个崩溃测试数据所归属的数据层次，从解析规则集合中选取出与数据层次...
该专利属于宁畅信息产业（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁畅信息产业（北京）有限公司授权不得商用。

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