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本申请提供了一种合金缺陷识别方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：以得到待检测合金的第一缺陷为目的，对所述待检测合金的待检测图像进行处理，得到所述待检测图像对应的二值化图像；确定所述二值化图像中各个第一缺陷的第一面积和几何轮廓；根据所...
该专利属于北京钢研高纳科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京钢研高纳科技股份有限公司授权不得商用。

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